JEDEC 發表首個矽光子可靠度標準,加速 AI 與資料中心大規模應用
by TechNews 編輯台 · TechNews 科技新報JEDEC 固態技術協會(JEDEC Solid State Technology Association)美東時間 2 日發表 JESD264《Silicon Photonics Qualification and Reliability Requirements》,為矽光子元件建立一致的資格認證與可靠度驗證框架。這項標準定位為業界首個跨產業的統一規範,目標是降低部署風險,並推動高速資料中心、電信與 AI 網路更多採用矽光子。
矽光子技術從研究環境走向大規模部署,產業對可靠度與製程控管的需求也同步升高。JEDEC 指出,過去矽光子較傳統 CMOS 缺乏標準化、可共同遵循的可靠度與驗證架構,導致供應鏈責任歸屬與驗證方式不確定性高。JESD264 推出正是要補上缺口,為整個矽光子生態系提供共同基準。
JEDEC 說明,這份標準涵蓋矽光子晶粒(die)與整合晶片組的完整可靠度流程,也納入元件層級的資格認證指引,範圍包括調變器、光電二極體、波導等關鍵組件。此標準也對組裝流程、雷射整合、製程控制與可追溯性提出要求,並釐清晶圓代工廠、OSAT 封測廠與系統開發商的可靠度責任。
JEDEC 董事會主席 Mian Quddus 表示,AI、雲端運算與高速通訊持續推升頻寬與效能需求,產業標準的重要性愈來愈高;JESD264 有助建立矽光子所需的可靠度基礎,並加速創新、強化產業協作。
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(首圖來源:shutterstock)